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高等教育領(lǐng)域數(shù)字化綜合服務(wù)平臺(tái)
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基于核外電子概率密度分布的復(fù)雜曲面零件匹配檢測(cè)方法
本發(fā)明屬于精密加工與測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，并公開了一種基于核外 電子概率密度分布的復(fù)雜曲面零件匹配檢測(cè)方法，包括:對(duì)待測(cè)零件 進(jìn)行非接觸式掃描獲得掃描點(diǎn)云，并將其與設(shè)計(jì)點(diǎn)云組成匹配比較對(duì) 象;將兩片點(diǎn)云轉(zhuǎn)換到同一三維坐標(biāo)系內(nèi)，并將各個(gè)點(diǎn)看作原子的原子核，將此原子核的鄰域點(diǎn)看作核外電子，遍歷所有點(diǎn)計(jì)算得出其對(duì) 應(yīng)的電子概率密度分布值;基于計(jì)算得出的電子概率密度分布值確定 兩個(gè)模型的誤差，并在當(dāng)前誤差不滿足終止條件時(shí)對(duì)測(cè)量點(diǎn)云進(jìn)行粗 匹配和精匹配，直至滿足終止條件為止。通過(guò)本發(fā)明，能夠有效解決 現(xiàn)有非接觸式匹配
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種閉環(huán)控制系統(tǒng)的模型與對(duì)象不匹配的檢測(cè)方法
本發(fā)明公開了一種閉環(huán)控制系統(tǒng)的模型與對(duì)象不匹配的檢測(cè)方法,在工業(yè)過(guò)程正常運(yùn)行時(shí)獲取當(dāng)前系統(tǒng)的閉環(huán)數(shù)據(jù)，利用該數(shù)據(jù)獲取模型質(zhì)量指標(biāo)，根據(jù)模型質(zhì)量指標(biāo)的值來(lái)檢測(cè)模型與對(duì)象的匹配程度；模型質(zhì)量指標(biāo)越接近于 1，模型與對(duì)象的匹配度越高；該模型質(zhì)量指標(biāo)不受控制器的調(diào)節(jié)參數(shù)的改變與干擾模型變化的影響；該方法可有效地把模型與對(duì)象不匹配從其它影響控制性能的因素中分離出去，更清晰地分析出模型與對(duì)象不匹配對(duì)控制系統(tǒng)性能的影響。另外，采用
華中科技大學(xué)
2021-04-14
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匹配泵環(huán)形壓水室的高效非對(duì)稱導(dǎo)葉體及優(yōu)化設(shè)計(jì)方法
項(xiàng)目簡(jiǎn)介 為了提高泵內(nèi)導(dǎo)葉體的效率及穩(wěn)定性，本成果基于流體動(dòng)力學(xué)理論，打破傳統(tǒng)的葉 片沿圓周方向均勻布置方式，提出了一種葉片沿圓周方向非對(duì)稱布置的導(dǎo)葉體及設(shè)計(jì)方 法。屬國(guó)內(nèi)首創(chuàng)項(xiàng)目。該成果經(jīng)計(jì)算流體動(dòng)力學(xué)計(jì)算驗(yàn)證，并申請(qǐng)了專利，專利號(hào)： 201320001584.5。 性能指標(biāo) 根據(jù)導(dǎo)葉體出口過(guò)流斷面上流體沿水泵旋轉(zhuǎn)方向流量增加這一特性，通過(guò)逐漸增加 葉片之間的角度，重構(gòu)每一流道的過(guò)流能力，
江蘇大學(xué)
2021-04-14
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一種跨比例尺矢量地圖水網(wǎng)數(shù)據(jù)同名目標(biāo)匹配方法
本發(fā)明涉及一種跨比例尺矢量地圖水網(wǎng)數(shù)據(jù)同名目標(biāo)匹配方法：1.導(dǎo)入具有相同投影坐標(biāo)系的兩份 同區(qū)域不同比例尺版本的待匹配水網(wǎng)數(shù)據(jù)，將小比例尺數(shù)據(jù)設(shè)置為匹配層，大比例尺數(shù)據(jù)設(shè)置為參考層； 2.分別對(duì)匹配層和參考層水網(wǎng)數(shù)據(jù)進(jìn)行幾何維度一致化處理，使之統(tǒng)一表達(dá)為結(jié)點(diǎn)—弧段的線狀水網(wǎng)結(jié) 構(gòu)；3.引入概率松弛模型依據(jù)距離關(guān)系指標(biāo)進(jìn)行結(jié)點(diǎn)匹配，4.基于結(jié)點(diǎn)匹配關(guān)系以及距離、長(zhǎng)度指標(biāo)進(jìn) 行弧段匹配；5.由線狀水網(wǎng)結(jié)構(gòu)間的弧段及結(jié)點(diǎn)匹配關(guān)系，導(dǎo)出原始匹配層水網(wǎng)數(shù)據(jù)與參考層水網(wǎng)數(shù)據(jù) 間的同名目標(biāo)匹配關(guān)系。本發(fā)明克服了不同比例尺版本水網(wǎng)數(shù)據(jù)目標(biāo)表達(dá)存在維度差異的難點(diǎn)，能夠準(zhǔn) 確高效地建立不同比例尺版本水網(wǎng)數(shù)據(jù)同名目標(biāo)匹配關(guān)系。
武漢大學(xué)
2021-04-13
一種用于光學(xué)散射測(cè)量的基于擬合誤差插值的庫(kù)匹配方法
本發(fā)明公開了一種用于光學(xué)散射測(cè)量的基于擬合誤差插值的庫(kù)匹配方法，包括：確定樣品待測(cè)結(jié)構(gòu)參數(shù)的變化范圍并對(duì)其執(zhí)行離散化處理，將所獲得的離散網(wǎng)格點(diǎn)及其對(duì)應(yīng)理論光譜值儲(chǔ)存到光譜庫(kù)中；獲得待測(cè)樣品的測(cè)量光譜并計(jì)算出離散網(wǎng)格點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)量光譜值與理論光譜值之間的擬合誤差，然后將其同樣儲(chǔ)存到光譜庫(kù)中；為擬合誤差設(shè)定閾值并執(zhí)行粗搜索，利用搜索出的擬合誤差所對(duì)應(yīng)的離散網(wǎng)格點(diǎn)來(lái)構(gòu)建候選參數(shù)集，并對(duì)擬合誤差執(zhí)行多維插值處理獲得相應(yīng)的擬合誤差插值函數(shù)；基于擬合誤差插值函數(shù)細(xì)搜索找出全局最優(yōu)點(diǎn)，其所對(duì)應(yīng)的參數(shù)值即為最終確定的
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于眾包指紋分簇和匹配的室內(nèi)子區(qū)域定位方法
本發(fā)明公開了一種室內(nèi)子區(qū)域定位方法，包括：在給定目標(biāo)區(qū)域中設(shè)置 N 個(gè)信號(hào)源，并將目標(biāo)區(qū)域依據(jù)物理結(jié)構(gòu)劃分成 K 個(gè)子區(qū)域，終端設(shè)備接收到指紋后將其上傳到服務(wù)器構(gòu)成指紋集，當(dāng)服務(wù)器接收到的指紋集中指紋的數(shù)目達(dá)到設(shè)定閾值后，則將當(dāng)前指紋集利用分簇算法劃分成 K 個(gè)簇，并將這 K 個(gè)簇一對(duì)一地匹配到 K 個(gè)子區(qū)域中，再將各指紋簇中所有指紋的均值作為對(duì)應(yīng)子區(qū)域的區(qū)域指紋用于定位，定位時(shí)計(jì)算定位指紋和子區(qū)域指紋中所有對(duì)應(yīng)信號(hào)的差值序列，得到各差值序列的方差，并將具有最小方差的子區(qū)域?yàn)樽罱K定位結(jié)果。本發(fā)明能夠解決現(xiàn)有指紋定位技術(shù)中人工采集指紋信號(hào)以構(gòu)建指紋數(shù)據(jù)庫(kù)帶來(lái)的工作量大和異質(zhì)設(shè)備定位精度差的問題。
華中科技大學(xué)
2021-04-11
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利用單一YAG: Ce3+熒光粉和紫外LED芯片匹配獲得白光的制備
最近以來(lái)，LED照明以其節(jié)能環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)，獲得了大規(guī)模的應(yīng)用。 傳統(tǒng)的黃色熒光粉YAG：Ce3+在藍(lán)光LED芯片激發(fā)下發(fā)出黃色的光，通過(guò)藍(lán)光和黃光復(fù)合產(chǎn)生白光，但這種粉體不能應(yīng)用于高能量的紫外LED芯片產(chǎn)生白光，因?yàn)閅AG：Ce3+的光譜中缺乏藍(lán)光波段。本項(xiàng)目通過(guò)特有的表面包覆和處理技術(shù)，使得YAG：Ce3+的外觀和普通YAG：Ce3+沒有區(qū)別，但在紫外光365nm激發(fā)下，不僅呈現(xiàn)出黃光發(fā)射，而且具有藍(lán)光發(fā)射，通過(guò)調(diào)控膜層的組成和厚度，匹配與紫外LED芯片時(shí)，器件發(fā)射出CIE坐標(biāo)（0.32,0.33）的白光。 利用此方法，可使得YAG:Ce3+粉發(fā)出藍(lán)光和黃光兩種波段，進(jìn)而復(fù)合產(chǎn)生白光，工藝簡(jiǎn)單，技術(shù)領(lǐng)先。
電子科技大學(xué)
2021-04-10
利用單一YAG: Ce3+熒光粉和紫外LED芯片匹配獲得白光的制備
成果簡(jiǎn)介： 最近以來(lái)，LED照明以其節(jié)能環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)，獲得了大規(guī)模的應(yīng)用。 傳統(tǒng)的黃色熒光粉YAG：Ce3+在藍(lán)光LED芯片激發(fā)下發(fā)出黃色的光，通過(guò)藍(lán)光和黃光復(fù)合產(chǎn)生白光，但這種粉體不能應(yīng)用于高能量的紫外LED芯片產(chǎn)生白光，因?yàn)閅AG：Ce3+的光譜中缺乏藍(lán)光波段。本項(xiàng)目通過(guò)特有的表面包覆和處理技術(shù)，使得YAG：Ce3+的外觀和普通YAG：Ce3+沒有區(qū)別，但在紫外光365nm激發(fā)下，不僅呈現(xiàn)出黃光發(fā)射，而且具有藍(lán)光發(fā)射，通過(guò)調(diào)控膜層的組成和厚度，匹配與紫外LED芯片時(shí)，器件發(fā)射出CIE坐標(biāo)（0.32,0.33）的白光。 利用此方法，可使得YAG:Ce3+粉發(fā)出藍(lán)光和黃光兩種波段，進(jìn)而復(fù)合產(chǎn)生白光，工藝簡(jiǎn)單，技術(shù)領(lǐng)先。
電子科技大學(xué)
2017-10-23
一種基于子空間融合和一致性約束的準(zhǔn)稠密匹配擴(kuò)展方法
本發(fā)明公開了一種基于子空間融合和一致性約束的準(zhǔn)稠密匹配擴(kuò)展方法。首先獲取可靠的種子匹配，在種子匹配周圍選定待擴(kuò)展區(qū)域。然后對(duì)區(qū)域內(nèi)的所有待擴(kuò)展像素點(diǎn)進(jìn)行稠密 SIFT 特征提取，并通過(guò)子空間學(xué)習(xí)將待擴(kuò)展點(diǎn)的特征信息和位置信息進(jìn)行融合。在尋找匹配時(shí)，利用一致性約束學(xué)習(xí)一個(gè)局部非剛體變換，該變換與仿射變換·748·等模型相比可以更好地描述非平面復(fù)雜場(chǎng)景。每一次擴(kuò)展完成之后，對(duì)擴(kuò)展結(jié)果進(jìn)行優(yōu)化，剔除不好的匹配
華中科技大學(xué)
2021-04-14
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面向工程機(jī)械機(jī)電液一體化系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)性能匹配方法與分 析軟件
面向工程機(jī)械機(jī)電液一體化系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)性能匹配方法與分析軟件（以下簡(jiǎn)稱為軟件）， 能夠根據(jù)用戶對(duì)工程機(jī)械整機(jī)動(dòng)力配件的選型，自動(dòng)組成整機(jī)系統(tǒng)模型，并預(yù)測(cè)工程機(jī) 械整機(jī)運(yùn)行時(shí)的性能以及各配件的功率輸出和發(fā)熱情況。該軟件可應(yīng)用于工程機(jī)械產(chǎn)品 開發(fā)的各個(gè)階段如參數(shù)選型，性能匹配、故障診斷、實(shí)驗(yàn)輔助等，并已成功應(yīng)用于山推 工程機(jī)械股份有限公司的新產(chǎn)品開發(fā)中。 技術(shù)特點(diǎn)： (1) 機(jī)電液熱融合建模，理論定位高級(jí)。軟件以預(yù)制的機(jī)電液零部件模塊模型為基 礎(chǔ)，可快速地、精細(xì)化地實(shí)現(xiàn)極端工況條件下機(jī)電液融合模型。 (2) 一體化的系統(tǒng)分析，問題覆蓋面廣。軟件綜合多種軟件資源，對(duì)特定工程機(jī)械 機(jī)型的核心動(dòng)力系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)任意節(jié)點(diǎn)輸出的、圖解化的、基于機(jī)械系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)結(jié) 果的系統(tǒng)分析。 (3) 機(jī)型軟件快速開發(fā)，面向用戶需求。軟件可針對(duì)牽引底盤和非牽引底盤，快速 開發(fā)出面向特定工程機(jī)械機(jī)型的機(jī)電液一體化性能分析軟件。 (4) 功能契合實(shí)際需要，適用范圍廣泛。適用于工程機(jī)械各個(gè)技術(shù)階段的參數(shù)選型、 性能匹配、故障診斷、以及實(shí)驗(yàn)輔助。
同濟(jì)大學(xué)
2021-04-13