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本發(fā)明公開了一種基于遙感衛(wèi)星成像的目標紅外輻射特性測量方法及系統(tǒng)，其中，方法的實現(xiàn)包括：通過逐步擴大目標區(qū)域，并判斷擴大目標區(qū)域前后的目標紅外輻射總能量的變化情況來進行紅外輻射能量的提取，并由此計算待測量目標物方的紅外輻射亮度，解決了目前紅外輻射特性測量方法不能有效解決基于遙感衛(wèi)星成像的目標紅外輻射特性測量的技術(shù)難題。

本發(fā)明提供一種基于平面圖像的靜態(tài)集成成像方法及系統(tǒng)，包括分別確定平面圖像的前景、中景和 后景；分別對前景、中景和后景復制位移得到相應(yīng)的 M×M 幅陣列圖像，包括計算前景位移量和后景位 移量，根據(jù)預設(shè)的行列數(shù) M 進行復制位移；將相同視角的前景、中景和后景組合得到 M×M 幅子圖像陣 列；將 M×M 幅子圖像陣列抽樣合成得到一幅單元圖像陣列；將單元圖像陣列通過輸出設(shè)備打印在打印 紙上，覆上立體顯示透鏡陣列或正交柱透鏡光柵再現(xiàn)立體圖像。本發(fā)明具有計

電容層析成像（Electrical Capacitance Tomography, 簡稱ECT）是80年代中期開始發(fā)展起來的一種多相流參數(shù)檢測技術(shù)。當相分布發(fā)生變化時會引起多相流混合體等價介電常數(shù)的變化，而引起傳感器測量電容值的變化。通過傳感器獲得管道截面上各電極對電容，重建出截面介電常數(shù)分布，該技術(shù)具有成本低廉、響應(yīng)速度快、非侵入性、適用范圍廣、安全性好等優(yōu)點，在石油管道的氣/油（油/水）流、氣體輸送的氣/固流、內(nèi)燃機燃燒以及流化床顆粒流動等工業(yè)過程的檢測中具有廣闊的應(yīng)用前景。 在

本發(fā)明公開了一種磁共振成像造影劑，包括質(zhì)量比為 1:5～1:15 的超順磁性納米顆粒以及羥乙基淀粉，所述超順磁性納米顆粒的粒徑 為 100nm～140nm，從內(nèi)至外由四氧化三鐵顆粒，檸檬酸以及右旋聚 賴氨酸組成，所述檸檬酸吸附于四氧化三鐵顆粒表面，所述右旋聚賴 氨酸通過離子鍵與所述檸檬酸相結(jié)合，且所述檸檬酸的質(zhì)量為所述四 氧化三鐵顆粒質(zhì)量的 6％～13％，所述右旋聚賴氨酸的質(zhì)量為所述四 氧化三鐵顆粒質(zhì)量的 8％～20％，所述磁共振成像造影劑為溶液或凍 干粉末。本發(fā)明還公開了該磁共振成像造影劑的制備方

本發(fā)明公開了一種基于超聲 CT 的合成孔徑成像方法及系統(tǒng)， 所述方法包括如下步驟：S1、利用超聲 CT 環(huán)陣探頭采集超聲反射接 收的數(shù)據(jù)，獲取原始回波數(shù)據(jù)；S2、對所述原始回波數(shù)據(jù)進行合成孔 徑聚焦，獲取各成像點的值；S3、旋轉(zhuǎn)超聲 CT 的環(huán)陣探頭，重復步 驟 S1-S2，得到多組成像點的值；其中每次旋轉(zhuǎn)的角度小于相鄰兩個陣 元到環(huán)陣探頭圓心之間的夾角；S4、對所有成像點的值進行加權(quán)平均， 再依次進行包絡(luò)檢測、對數(shù)壓縮和灰度映射處理，得到最終的高分辨 率圖像。本發(fā)明還提供了實現(xiàn)上述方法的系統(tǒng)。本發(fā)

本發(fā)明公開了一種基于光熱成像的微電子封裝工藝質(zhì)量檢測裝置，包括圖像獲取裝置、工作臺、控制裝置及數(shù)據(jù)處理裝置；其中圖像獲取裝置包括支架橫梁、平動電機、成像探頭、光發(fā)射器；平動電機固定于橫梁的下側(cè)面，成像探頭垂直固定于平動電機中的移動塊；光發(fā)射器通過可調(diào)連接件連接至所述移動塊，通過調(diào)節(jié)可調(diào)連接件使其發(fā)射的光經(jīng)試樣反射后進入成像探頭；數(shù)據(jù)處理裝置用于對所述圖像獲取裝置獲取的光圖像和熱圖像數(shù)據(jù)進行處理后獲得相關(guān)系數(shù)和均方差統(tǒng)計系數(shù)，并將所述相關(guān)系數(shù)和均方差統(tǒng)計系數(shù)與預設(shè)的閾值進行比較，根據(jù)比較結(jié)果獲得工藝質(zhì)

電容層析成像（Electrical Capacitance Tomography,簡稱ECT）通過傳感器獲得管道截面上各電極對電容，重建出截面介電常數(shù)分布。在管道上布置上下游兩個ECT傳感器則構(gòu)成了雙截面ECT系統(tǒng)。流體流過ECT的兩個成像截面，會得到具有時間差（渡越時間）的兩組圖像。利用互相關(guān)算法從兩組圖像中提取成像截面不同位置的渡越時間可以得到成像截面的速度分布。進一步，可以從速度分布和圖像灰度中提取體積流量，實現(xiàn)多相流的流動過程在線監(jiān)測和多參數(shù)測量。

產(chǎn)品詳細介紹　　SOC720SW 短波紅外成像光譜儀是一款高質(zhì)量、高性能的儀器，光譜范圍為900nm～1700nm。　　SOC720SW具有高光譜分辨率 (6.25 nm), 輕度光譜失真 (<1.5 nm)成像分光計和高靈敏度的InGaAs 探測器 (D* = 1.5e13  √cm-Hz/W)，使得SOC720SW可以14-bit同時收集640像素、128個波段的光譜信息。這保證了所有應(yīng)用里，獲得的是最高質(zhì)量數(shù)據(jù)。 使用簡單和實時處理　　SOC720SW是一個完整的系統(tǒng)，開箱之后即可使用。　　系統(tǒng)采用SOC的HyperSpect? 操作軟件和HSAnalysis?校準和分析工具進行標定和使用前設(shè)置。　　數(shù)據(jù)以開放的BIL二進制格式保存，可以兼容第三方分析軟件。無需額外的掃描儀或軟件。　　可選的SOC MIDIS?處理器以最優(yōu)的電腦速度快速執(zhí)行光譜處理，克服了大部分成像光譜儀在實時數(shù)據(jù)處理方面的瓶頸。　　MIDIS處理器具有多個相關(guān)通道同時監(jiān)測測量數(shù)據(jù)和三光譜積分，使得MIDIS處理器有能力克服當今數(shù)據(jù)處理的難題。　　配備了一個高質(zhì)量的成像分光計、標定和分析軟件、高速低噪InGaAs線列和完整的掃描系統(tǒng)，SOC-720SW通過高速Camera-Link接口可以記錄900nm到1700nm光譜范圍內(nèi)、6.25nm分辨率的高質(zhì)量光譜成像數(shù)據(jù)。靈敏度高于1.5x1013cmHz/W（1550nm）。　　SOC的HS分析軟件可以用來進行標定和數(shù)據(jù)分析。記錄的數(shù)據(jù)格式為開放式的二進制數(shù)據(jù)，可以很容易的用第三方分析軟件打開，如ENVI軟件。無須數(shù)據(jù)格式轉(zhuǎn)換。技術(shù)參數(shù)：光譜范圍： 900-1700 nm光譜分辨率： 6.25 nm光譜通道： 128光譜失真： <1.5 microns  (smile)數(shù)字光圈： F/2.4TFOV/IFOV (35MM)： 10°/0.015625°分辨率(像素)： 640x640 (nominal)LINE RATE： 30 Spatial Lines/SecondCUBE RATE： 20 Seconds/Cube數(shù)字分辨率： 14-bit三腳架： 3/8”-16計算機接口： Cameral-Link掃描： 內(nèi)置供電： AC/12DV重量： 30 lbs.尺寸： 7”x14”x22”  應(yīng)用領(lǐng)域： 機械視覺　　電子學和塑膠　　晶片檢查　　農(nóng)業(yè)品質(zhì)　　化學過程控制農(nóng)業(yè)領(lǐng)域　　精準農(nóng)業(yè)　　土地分類　　水份脅迫　　作物健康 溫度記錄　　火點監(jiān)測　　玻璃檢測　　金屬純度軍事　　ISR　　邊境安全　　導彈跟蹤醫(yī)學領(lǐng)域　　血糖分析　　X線斷層攝影術(shù)

DRSim5.0-虛擬數(shù)字X 線成像技術(shù)仿真實驗儀包含三個獨立的模擬模塊：X 射線物理模塊、DR攝影技術(shù)模塊、圖像質(zhì)控（調(diào)節(jié)）模塊。 DRSim5.0-虛擬數(shù)字X 線成像技術(shù)仿真實驗儀滿足醫(yī)學影像成像理論（或類似課程）的X 射線物理和DR 成像原理部分教學，以及醫(yī)學影像檢查技術(shù)課程的DR 操作實驗。

本仿真實驗儀模擬X射線產(chǎn)生與檢測的物理原理，和臨床CR/DR設(shè)備的基本操作及圖像質(zhì)量控制功能。包含三個獨立的模擬模塊：X射線物理模塊、DR攝影技術(shù)模塊、圖像質(zhì)控（調(diào)節(jié)）模塊。滿足醫(yī)學影像成像理論（或類似課程）的X射線物理和DR成像原理部分教學，以及醫(yī)學影像檢查技術(shù)課程的DR操作實驗。