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本發明公開了一種納米尺度下快速大面積海量散射場測量的裝 置，包括:起偏端，用于將光束進行調制得到一定偏振態的光束;檢 偏端，用于將偏振態光束進行解調以獲得樣品信息;還包括物鏡和第 一透鏡，待測樣品位于物鏡的前焦面上，偏振態光束經過該第一透鏡 聚焦在物鏡的后焦面，待測樣品散射光被物鏡收集并成像于其后焦面， 進而成像于圖像采集裝置上;以及掃描振鏡，用于使得所述物鏡出射 到樣品上的光束角度改變，獲得待測樣品不同入射角下的散射場分布 圖像，實現對待測樣品納米尺度下的快速精確的形貌測量。本發明還 公開了相應的

本發明公開了一種基于磁納米磁化強度-溫度曲線的快速測溫方法，其包括以下步驟：(1)將磁納米粒子樣品置于待測對象的表面；(2)在所述磁納米粒子樣品所在區域施加直流激勵磁場；(3)獲取所述待測對象的初始溫度 T(0)，并根據該初始溫度 T(0)計算出初始磁化強度M(0)；(4)采用探測線圈檢測由溫度變化而引起磁化強度變化的響應信號 u(t)；(5)根據所述初始磁化強度 M(0)和響應信號 u(t)實時計算出磁納米粒子的磁

本發明公開了一種手持式多激光條紋快速三維測量方法，包括 以下步驟：1)粘貼標志點：2)使用手持三維測量儀測量物體表面的三維 數據：3)采集圖像：4)圖像處理：5)標志點的三維坐標計算：6)物體表 面點的三維坐標計算；7)手持三維測量儀的定位和世界坐標系下的數 據拼合，即獲得從當前相機坐標系變換到世界坐標系的旋轉平移矩陣， 以實現當前物體表面測量點從相機坐標系到世界坐標系的轉換關系和 世界坐標系下的數據拼合。本發明通過

本發明公開了一種微納深溝槽結構側壁形貌快速測量方法及裝置，能夠同時快速測量微納深溝槽結構線寬、溝槽深度、側壁角、側壁粗糙度等側壁形貌參數。步驟為：將波長為從近紅外到中紅外的光束經起偏后得到的橢圓偏振光投射到待測結構表面；采集待測結構表面零級衍射信號，計算得到微納深溝槽結構測量紅外橢偏光譜；采用分波長建模方法分別計算在近紅外和中紅外波段理論橢偏光譜，采用分步光譜反演方法與實驗測量紅外橢偏光譜匹配，依次提取出溝槽結構參數和粗糙度參數。裝置包括紅外光源、第一至第四離軸拋物鏡、邁克爾遜干涉儀、平面反射鏡、起

旨在為大規模代數系統設計新型高效的求解算法，并結合信息科學進行交叉研究。在大規模代數系統新型Krylov子空間算法及其基礎理論、復雜電磁計算、圖像處理高性能數值方法、動力系統與智能控制理論方面進行了系統深入的研究，取得了具有創新性的成果，例如：解決了科學計算中的有關基礎或困難問題；提出了Lanczos雙共軛A-標準正交短遞歸Krylov子空間迭代法BiCOR/CORS/BiCORSTAB方法、一種新的“二維雙連續投影(2D-DSPM)方法”等一系列高效算法；為求解復雜電磁問題產生的復雜線性系統設計了高效算法與預條件技術；提出了一些新型高效的邊界處理、圖像復原方法，具有更快的計算速度和更好的復原質量；將數值代數與特殊矩陣分析和神經網絡交叉研究取得成果。

本發明提供了一種基于快速二值編碼的高分辨率遙感影像場景分類方法，包括步驟:步驟 1，劃分 待分類遙感影像獲得場景單元;步驟 2，從場景單元中提取尺寸相同的圖像塊作為局部圖像塊訓練樣本; 步驟 3，采用非監督學習法學習局部圖像塊訓練樣本獲得濾波器組;步驟 4，將場景單元與濾波器組中 各濾波器分別做卷積獲得各場景單元的幅濾波器響應圖，采用二值編碼法分別融合各場景單元的幅濾波 器響應圖獲得各場景單元的全局特征描述;步驟 5，基于場景單元的全局特征描述進行場景單元分類。 本發明在保證場景分類精度的前提下，大大降低了非監學習法的計算代價。

本發明公開了一種快速提取OSM數據中用戶自定義多邊形區域內路網的方法，該方法能夠快速地將用戶自定義的需要研究的范圍外的節點和路段刪除，最終得到用戶自定義多邊形區域內的OSM路網數據。目前從OSM數據導出的路網區域只能是矩形，本發明可以讓用戶自定義多邊形研究區域，并快速地自動刪除自定義多邊形區域外的節點和路網，節省了用戶先解析矩形范圍的OSM數據再手工刪除區域外的節點和路段產生的額外的時間和工作量，同時也避免該過程中人工操作可能產生的錯誤。

一種平衡三叉樹的快速圖像置亂算法，算法簡單，置亂穩定且能快速達到理想的置亂效果，通用性好，并能抵抗一定的攻擊，可以很好的用于信息隱藏的預處理和圖像加密，而且可以滿足數字圖像加密和隱藏的魯棒性要求。

成果介紹本發明公開了一種城市天際輪廓線立面正射影像圖的快速獲取和測量方法，包括以下步驟：利用攜帶坐標獲取裝置的照相機逐段拍攝城市天際輪廓線立面的局部影像，并記錄每個拍攝時刻照相機的坐標方位和鏡頭朝向；獲取每個拍攝點與所拍攝對象之間的水平距離；建立拍攝點與拍攝圖像的幾何映射關系，生成城市天際輪廓線立面的正射影像圖；綜合城市天際輪廓線立面與其正射影像圖的幾何比例，輸出城市天際輪廓線立面正射影像圖的測量數據。本發明縮小了常規技術帶來的圖像畸變誤差，提高了測量精度。本發明的目的是提供一種 城市天際輪廓線立面正射影像圖的快速獲取和測量方法，縮小了常規技術帶來的 圖像畸變誤差，提高了測量精度。技術方案：為實現上述發明目的，本發明采用的技術方案為一種城市天際輪 廓線立面正射影像圖的快速獲取和測量方法，包括以下步驟：1）利用攜帶坐標獲取裝置的照相機逐段拍攝城市天際輪廓線立面的局部影 像，并記錄每個拍攝時刻照相機的坐標方位和鏡頭朝向；2）獲取每個拍攝點與所拍攝對象之間的水平距離；3）建立拍攝點與拍攝圖像的幾何映射關系，生成城市天際輪廓線立面的正 射影像圖；4）綜合城市天際輪廓線立面與其正射影像圖的幾何比例，輸出城市天際輪 廓線立面正射影像圖的測量數據。技術創新點及參數1.1）利用攜帶坐標獲取裝置的照相機(800萬以上像素)逐段拍攝城市天際輪 廓線立面的局部影像，所述影像中城市天際輪廓線位于圖幅中心；1.2）通過攜帶坐標獲取裝置的照相機(800萬以上像素)，在每一次拍攝局部 影像時，記錄拍攝時相機坐標方位的經度、緯度以及鏡頭朝向。進一步的，所述步驟2）包括：2.1）分別獲取步驟1）各局部影像所拍攝對象上左右兩端點A1和A2的經緯 度坐標，以及兩點之間的距離K；2.2）由拍攝點向步驟2.1）中的兩點連線做垂線，垂線與所述兩點連線有一 交點，記錄拍攝點至所述交點的距離，該距離為拍攝點與所拍攝對象之間的水平 距離S。進一步的，所述步驟3）包括：3.1）任選城市天際輪廓線立面的某一局部影像為標準，其拍攝點至所拍攝 對象之間的水平距離為S0，所拍攝局部影像所拍攝對象上左右兩端點之間的距離 K0，拍攝得到局部影像的寬度為A0；3.2）以所選局部影像為標準，對其他局部影像的邊長進行縮放調整，，公式 為：A i = S i S 0 A 0式中，Si為局部影像i其拍攝點至所拍攝對象之間的水平距離（參考步驟 2.2）的方法獲得）,Ai為該局部影像縮放后的影像寬度。3.3）將經過縮放調整的局部影像依照圖像序列進行拼接，得到完整的城市 天際輪廓線立面正射影像圖。進一步的，所述步驟4）包括：4.1）于步驟3.3）拼合得到的城市天際輪廓線立面正射影像圖上進行測量， 天際輪廓線的圖面高度為H0，圖面長度為L0；4.2）計算城市天際輪廓線的實際高度H，公式為：H = K 0 A 0 H 04.3）計算城市天際輪廓線的實際長度L，公式為：L = K 0 A 0 L 0式中，K0即為步驟3.1）所選局部影像的拍攝對象左右端點的實際距離（參 考步驟2.1）的方法獲得）。4.4）輸出城市天際輪廓線的實際高度H和實際長度L。市場前景城市天際輪廓線，亦稱城市天際線，是由城市中的高層建筑構成的整體形象， 或由高層建筑群構成的局部形象。城市天際輪廓線直接取決于城市用地建設的發 展布局，又是城市規劃建設成果的直觀反映，因此，城市天際輪廓線是城市規劃 建設部門進行城市建設和調整的重要內容。獲得現狀的城市天際輪廓線的立面正射影像圖是城市規劃建設部門進行天 際線建設和空間調整的首要和重要技術環節。但是，構成城市天際輪廓線的城市 建筑群的分布往往呈曲線形態蜿蜒綿延，實際長度往往長達數公里以上，甚至超 過5公里，在采用定點單張拍攝的方式時，同樣出現在影像上的被攝物體其實際 距拍攝點的距離往往相差很大，造成定點單張拍攝的城市天際輪廓線圖像存在很 大的透視變形，當采用同樣方法進行測算時，圖像兩端的建筑會比圖像正中的建 筑尺度偏小，造成城市天際輪廓線的高度、長度等數據的測算誤差，這種因透視 造成的測算誤差，雖然可以通過攝像器材進行校正，但仍舊無法完全消除。這使 城市規劃建設部門在城市天際線建設和空間引導建設中，缺乏準確有效的圖像信息和測量數據。1.減少傳統技術做法的圖像誤差：本發明針對了傳統城市天際輪 廓線立面影像圖獲取方法應透視帶來的圖像畸變和數據測量誤差，提出一種利用 多點拍攝并自動校正拼合的獲取方式，輸出城市天際輪廓線立面的正射影像圖， 基本消除了透視帶來的圖像誤差。2.自動輸出測算數據，節省工期：通過附加坐標獲取裝置的攝像器材，將圖 像和坐標同步輸入，可以自動進行空間解算，輸出天際輪廓線立面正射影像圖和 測算數據，交互方式簡便，提高工作效率，節省工作時間。