集成電路測(cè)試儀

電子信息

集成電路測(cè)試儀是用于IC生產(chǎn)線的自動(dòng)測(cè)試儀器，由電子科大自動(dòng)化學(xué)院自動(dòng)控制工程中心團(tuán)隊(duì)研制。測(cè)試儀能夠測(cè)試多種模擬集成電路、數(shù)字集成電路和數(shù)模混合電路。儀器模擬通道的最大電壓測(cè)試能力為±32V，最大電流測(cè)試能力是±2A。集成電路測(cè)試儀能夠提供標(biāo)準(zhǔn)的TTL接口信號(hào)，可以與生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的分選設(shè)備配合使用，完成集成電路的自動(dòng)測(cè)試和分選工作，1小時(shí)可以測(cè)試上千只芯片。

小批量或小范圍應(yīng)用